适用于强偏磁层、含铅层、隔离层和传感器叠层沉积
通过 Veeco 的第三代 NEXUS® 离子束沉积 (IBD) 系统,数据存储生产商可以极大提高 80Gb/in2 传感器的良率,并能满足未来薄膜磁头 (TFMH) 器件制造的要求。
Veeco 首席工艺开发工程师 Frank Cerio 博士在 IEEE 国际互连技术大会 (IITC) 上作了报告。题为“利用离子束沉积优化钨的微结构以实现低电阻率”的报告还以海报形式展出。立即观看:
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